檢索結果:共2筆資料 檢索策略: "陳炤彰".cadvisor (精準) and ckeyword.raw="卷積神經網路"
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半導體製造規格不斷的縮小、以及堆疊層數增加的情況下,使得化學機械拋光製程(Chemical Mechanical Polishing, CMP)對臨界尺寸控制需更加要求,因此在製程終點控制面臨重大挑…
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本研究主要分析隱形眼鏡製程中,射出成形製造含菲涅爾微結構隱形眼鏡殼模及製備隱形眼鏡乾片及濕片造成之誤差對於隱形眼鏡的光學性能影響。分析形狀誤差(Form Error) Rt、平均Z軸位移量及微結構複…